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产品资料
产品[

低相位差高速检测设备[产品打印页面]

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: 低相位差高速检测设备
产品型号: cp-001
产品展商: OTSUKA日本大冢
折扣价格: 0.00 元
关注指数:258
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简单先容

可测量从0nm开始的低相位差(残留应力)。 检测光学轴的同时,同步高速测量相位差(Re.)。(0.1秒以下的高速同时量测) 偏光检测仪无任何驱动元件干扰,可提高再现性量测精度。 无需复杂参数设定,操作简单易懂。 550nm以外,亦可支援其它波长量测。 Rth量测、全角度量测。(需搭配自动旋转倾斜装置) 搭配拉力测试机可同时量测薄膜偏光特性与光弹性。(特殊规格)

低相位差高速检测设备

   的详细先容
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产品特点

  • 可测量从0nm开始的低相位差(残留应力)。
  • 检测光学轴的同时,同步高速测量相位差(Re.)。(0.1秒以下的高速同时量测)
  • 偏光检测仪无任何驱动元件干扰,可提高再现性量测精度。
  • 无需复杂参数设定,操作简单易懂。
  • 550nm以外,亦可支援其它波长量测。
  • Rth量测、全角度量测。(需搭配自动旋转倾斜装置)
  • 搭配拉力测试机可同时量测薄膜偏光特性与光弹性。(特殊规格)

量测项目

量测原理

RE-100,系采用光结晶像素与CCD感光元件所构成的偏光检测仪。搭配带有穿透率特性的各种偏光元件,可以高速同时进行相位差与光学轴的量测。 CCD感光元件会自动撷取经过偏光后所呈现的画面进行解析。相较以往,不需要再使用任何的驱动元件来寻找偏光后的受光强度。不但可提高再现性的精度、更具备长时间使用的安定性。
 

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产品规格

样品尺寸 *小10×10mm ~ *大100×100mm
量测波长 550nm (标准规格)*1
相位差量测范围 约0nm ~ 约10μm
相位差量测精度 0.05nm (3σ)*2
光学轴量测精度 0.05°(3σ)*2
解析元件 偏光检测仪
量测口径 2.2mm×2.2mm
通讯介面 100W 卤素灯或LED光源
尺寸 300(W) × 560(H) ×430(D) mm
重量 约20 kg

*1 可选择其他波长
*2 量测水晶波长板之精度(约55nm,2枚型)

应用范围

■相位差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种机能性薄膜、
■树脂、玻璃等透明带有低相位差之样品(残留应力)

量测范例

■ 视野角改善膜A 
■ 视野角改善膜B

选配附件

自动旋转倾斜装置

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